|
|
| |
Волкова Елена Александровнаe-mail: volkova@geol.msu.ru
телефон: 939-29-80
кабинет: 404
Tolstik N., Heinrich S., Kahn A., Volkova E., Maltsev V., Kuleshov N., Huber G., Leonyuk N. High-temperature growth and spectroscopic characterization of Er,Yb:YAl3(BO3)4 epitaxial thin layers. // Optical Materials, Vol. 32, 2010, pp. 1377-1379.Сообщаются результаты высокотемпературной кристаллизации и исследования спектроскопических и волновых свойств монокристаллических слоев Er,Yb:YAl3(BO3)4 полученных методом жидкофазной эпитаксии на подложках YAl3(BO3)4. Проанализированы спектры поглощения и испускания и измерены времена жизни флюоресцентного излучения. Волкова Е.А., Ксенофонтов Д.А., Мальцев В.В., Леонюк Н.И., Кабалов Ю.К., Барило С.Н., Бычков Г.Л., Толстик Н.А., Кулешов Н.В. Жидкофазная эпитаксия монокристаллических слоев (Er,Yb):YAl3(BO3)4 - основы планарных волноводов // Неорганические материалы. В печати.Из раствора в расплаве на основе калиевого тримолибдата на точечных затравках получены кристаллы YAl3(BO3)4 (YAB) размером 10х10x8 мм3, которые в данной работе использованы в качестве подложек для жидкофазной эпитаксии монокристаллических слоев (Er,Yb):YAB толщиной 50-100 мкм. Методом высокотемпературной дифрактометрии изучена температурная зависимость параметров гексагональной решетки номинально чистого и соактивированного эрбием и иттербием YAB, а также рассчитаны коэффициенты их термического расширения. Продемонстрирован волноводный режим распространения излучения и измерены оптические потери в пленках.
|
